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適用于高速率的譜應用

“無損失”或“零死時間”（ZDT）
用來計算高速率下計數損失的常用方法是延長采集時間。基本假設必須是樣品在延長期內不會發生變化。但當遇到短半衰期或樣品非靜止（例如，流過管道）時，該假設并不成立。ORTEC已經完善了數字領域的無損計數技術。在該方法中，譜本身按脈沖逐個進行校正，ZDT方法還提供精確校正的譜和正確計算的統計不確定性。

“增加處理量”模式
高輸入計數率下的精度可能受譜儀將數據存儲到內存的速度限制。這就是所謂的“處理量限制”。脈沖堆積意味著超過某一點，存儲到內存的數據速率隨著輸入計數率的進一步增加而降低，從而降低了結果質量。ORTEC通過開發一種新型數字峰值檢測算法，消除了與脈沖峰值幅度確定過程相關的一些死區時間，從而將處理量提高了30％。

適用于運動中的樣品

列表模式
對于樣品相對于輻射探測器移動的情況，通常需要測量作為時間函數的活度曲線。此類應用的例子包括空中和陸上測量以及出入口監控。通常要求不出現與“采集 - 存儲 - 清除 - 重啟”循環相關聯的“死區”。在列表操作模式中，數據按事件逐個直接流式傳輸到計算機。沒有相關的“死區”。在DSPEC Pro中，每個事件的時間戳都精確到200納秒。通過使用程序員工具包，可以將數據重新制作成譜，以便通過ORTEC的各種分析軟件產品或用戶開發的代碼進行離線分析。

適用于惡劣環境和機械冷卻器

低頻噪聲抑制器（LFR）
HPGe輻射探測器在存在機械振動環境中的性能并不十分理想。顫噪噪聲通過向主信號添加低頻周期性電噪聲而降低了能量分辨率。電接地回路也是低頻電噪聲的來源。越來越多的HPGe探測器為消除對LN2的需求而使用機械冷卻器，以及越來越多的HPGe探測器被帶出實驗室環境。

DSPEC Pro具有低頻噪聲抑制器（LFR）功能，可降低此類噪聲源的影響。再結合高性能列表模式，DSPEC Pro是移動車輛測量系統的儀器。

用于提高大型或中子損傷探測器的分辨率

彈道虧損和電荷捕獲校正
DSPEC Pro中的梯形數字濾波器與所有其他ORTEC DSPEC系列產品相同。它可調整濾波器以優化大型HPGe輻射探測器的分辨率性能，當存在彈道虧損時，這些探測器通常會出現低能拖尾現象。這些大型探測器越來越多地被用于低水平計數應用。

調整主要通過使用“優化”功能自動進行，還可通過InSIGHT數字示波器模式進行監控。

DSPEC Pro以電荷捕獲校正器的形式提供更多功能，電荷捕獲校正器可用于減輕中子損傷輻射探測器的峰值衰減。中子對晶格的損傷會產生“捕獲”中心，該中心可“保留”由伽馬射線相互作用產生的一些電荷。這將導致低側拖尾類似于彈道虧損，盡管原因有所不同。電荷捕獲校正器進行校準或“訓練”，使得它可按事件逐個加回脈沖高度虧損。

規格 +

顯示

240 x 160像素背光LCD提供狀態信息、儀器ID、偏壓信息、活時間和實時間。

并發連接數

受計算機和支持USB集線器的限制。每臺計算機上的ORTEC CONNECTIONS軟件最多支持127個通過USB連接的設備。

系統增益設置

• 粗調增益：1、2、4、8、16或32。
•微調增益：0.45到1。
•可用的增益設置范圍支持所有類型的HPGe探測器。具體而言，使用標準ORTEC前置放大器（增益到最小增益）可實現以下能量值：

COAX	187 keV至12 MeV
LO-AX	94 keV至6 MeV
GLP/SLP	16.5 keV至1 MeV
IGLET-X	8 keV至500 keV

前置放大器

計算機可選擇作為電阻或TRP前置放大器。

系統轉換增益

系統轉換增益可由軟件在512到16k通道之間進行控制。

數字濾波器整形時間常數

•上升時間：0.8 μs至23 μs，步長為0.2 μs。
• 平頂：0.3至2.4，步長為0.1 μs。

死時間校正

根據Gedcke-Hale方法進行擴展的活時間校正。

精度

參考區域峰值在每秒0到50,000的計數范圍內變化<±3%。

低頻抑制器

設置為ON時，將消除譜中的低頻（<3 kHz）輸入噪聲。

線性

•積分非線性：用混合源（55Fe @ 5.9keV至88Y @ 1836keV）測量，在譜的前99.5％<±0.025％。
•微分非線性：在范圍的前99％<±1％（使用BNC脈沖發生器和斜坡發生器測量）。
•數字穩譜器：通過計算機控制，穩定增益和。

系統溫度系數

•增益：<50 ppm/°C。[通常<30 ppm/°C。]
•偏移：<滿量程的3 ppm/°C，上升和下降時間為12 μs，平頂為1 μs。（類似于模擬6 μs整形。）

系統處理量

LFR關閉時>100,000 cps。LFR開啟時>34,000 cps。取決于整形參數。

脈沖堆積判棄器

自動設置閾值。

脈沖對分辨率

通常<500 ns。

自動極零調整

由計算機控制。可以自動或手動設置。通過InSight示波器模式進行遠程診斷。（）。

數字門控基線恢復器

由計算機控制的恢復率調整（高、低和自動）。（）。

LLD

在通道中設置數字低電平甄別器。LLD設置以下的通道中的數據硬截斷。

ULD

在通道中設置數字高電平甄別器。ULD設置以上的通道中的數據硬截斷。

計數率計

MCA和/或PC屏幕上顯示計數率。

電池

內置電池用于內存備份，可在電源中斷時保存設置。

輸入端和輸出端

探測器	多針連接器（13W3），具有以下功能： •前置放大器功率：1 W（+12 V，-12 V，+24 V，-24 V，2 GND）。 •Amp In：正常放大器輸入。 •TRP抑制。 •SMART-1或DIM的電源。 •HV和SMART-1探測器的控件（2線）。
USB	用于PC通信的通用串行總線。
電源	由壁掛式直流電源供電。(+12 V dc <1.25 A)。

電氣和機械

更改樣品輸出端	后面板BNC連接器，與TTL兼容。
樣品就緒輸入端	后面板BNC連接器，接受來自樣品轉換器的TTL電平信號。軟件可選擇極性。
尺寸	8.1高 x 20.3寬 x 24.9深厘米（3.2高 x 8寬 x 9.8深英寸）
重量	1.0千克（2.2磅）
工作溫度范圍	0至50°C，包括LCD顯示屏。

輻射探測器高壓電源

SMART-1	HV模塊與輻射探測器本身為一體式結構。
非SMART-1	對于“傳統”或“非SMART-1”探測器，HV電源采用探測器接口模塊或帶2米電纜的“DIM”形式。DIM有一個用于傳統探測器電纜套件的配套連接器：9針D型前置放大器電源線、模擬輸入、關閉輸入、偏壓輸出和禁止輸入。非SMART-1探測器的DIMS可配備以下高壓選項： •DIM-POSGE：用于任何非SMART-1正偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊。 •DIM-NEGGE：用于任何非SMART-1負偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊。 •DIM-POSNAI：用于任何正偏壓NaI探測器的探測器接口模塊。 •DIM-296：帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測器接口模塊，用于帶有14針10級光電倍增管的NaI探測器。
前面板顯示屏	在所有情況下，偏置電壓和關閉極性都從計算機上進行設置。DSPEC Pro可以監控輸出電壓和關閉狀態；探測器高壓值（只讀）；和探測器高壓狀態（開/關）（讀/寫），這些都顯示在前面板LCD上。此外，SMART-1探測器通過監控以下功能提供額外的“健康狀態”信息：探測器溫度（只讀）；探測器過載狀態；探測器驗證碼（讀/寫）；和探測器序列號（只讀）。

訂購信息 +

型號	描述
DSPEC PRO	帶MAESTRO軟件、無DIM的DSPEC Pro，用于配備有SMART-1的探測器。
DSPEC PRO-POSGE	帶MAESTRO軟件和DIM-POSGE的DSPEC Pro，用于非SMART-1探測器。
DSPEC PRO-NEGGE	帶MAESTRO軟件和DIM-NEGGE的DSPEC Pro，用于非SMART-1探測器。
DSPEC PRO-POSNA	帶MAESTRO軟件和DIM-POSNAI的DSPEC Pro，用于NaI探測器。
DSPEC PRO-296	帶MAESTRO軟件和DIM-296的DSPEC Pro，用于NaI探測器。
DSPEC PRO-PKG-1	帶MAESTRO和GammaVision軟件、無DIM的DSPEC Pro，用于配備有SMART-1的探測器。
DSPEC PRO-PTK	帶MAESTRO和A11軟件、無DIM的DSPEC Pro，用于配備有SMART-1的探測器。

其他DIM
DIM-POSGE	用于任何非SMART正偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊
DIM-NEGGE	用于任何非SMART負偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊
DIM-POSNAI	用于任何正偏壓NaI探測器的探測器接口模塊
DIM-296	帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測器接口模塊，用于帶有14針10級光電倍增管的NaI探測器。

DSPEC Pro數字信號處理γ射線譜儀

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